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Placa de sonda óptica integrada e sistema para teste em lote de estruturas ópticas MEMS com eixo óptico plano usando componentes de bancada micro-óptica

Resumo:

Os aspectos estão relacionados a uma placa de sonda óptica integrada e a um sistema para realizar testes de pastilhas de estruturas de sistemas microeletromecânicos ópticos (MEMS) com um eixo óptico no plano. A triagem óptica on-wafer de estruturas MEMS ópticas pode ser realizada utilizando um ou mais componentes de bancada microóptica para redirecionar a luz entre uma direção fora do plano que é perpendicular ao eixo óptico no plano para uma direção no plano que é paralela ao eixo óptico no plano para permitir o teste das estruturas ópticas de MEMS com injeção vertical da luz.

Imagens

ÔNIBUS 20180143245

estados unidos
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inventor:
Bassam Saadany, Mostafa Medhat, Muhammad Nagi, Ahmed Shebl, Yasser M. Sabry, Bassem Mortada, Diaa Khalil
destinatário atual:
Sistemas SI Ware | SAE | SI Ware Systems Inc
Status:
Allowed
Data de status:
September 22, 2020
domínio:
Sistemas SI Ware | SAE | SI Ware Systems Inc
aplicações em todo o mundo:
2015. us us. 2026. kr au ca wo es ep cn mx jp. 2017. us us 2018. il

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