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UMA TÉCNICA PARA DETERMINAR A POSIÇÃO DO ESPELHO EM INTERFERÔMETROS ÓPTICOS

Resumo:

Os sistemas de interferômetro do sistema micromecânico (MEMS) utilizam um circuito de detecção capacitiva para determinar a posição do espelho móvel. Um atuador eletrostático MEMS é acoplado ao espelho móvel para causar o deslocamento do espelho móvel. O circuito de detecção de capacitância detecta a capacitância atual do atuador MEMS e determina a posição do espelho móvel com base na capacitância atual do atuador MEMS.

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JP 2012-557200

estados unidos
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inventor:
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destinatário atual:
Sistemas SI Ware
Status:
Granted
Data de status:
February 27, 2018
domínio:
Sistemas SI Ware
aplicações em todo o mundo:
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