AUTOCALIBRAÇÃO PARA POSICIONAMENTO DE ESPELHO EM INTERFERÔMETROS ÓPTICOS DE MEMS
Resumo:
Um interferômetro de sistema microeletromecânico (MEMS) permite a autocalibração do posicionamento do espelho de um espelho móvel. O espelho móvel é acoplado a um atuador MEMS com uma capacitância variável. O interferômetro MEMS inclui um circuito de detecção capacitiva para determinar a capacitância do atuador MEMS em duas ou mais posições conhecidas do espelho móvel e um módulo de calibração para usar as capacitâncias do atuador nas posições conhecidas para compensar qualquer desvio no circuito de detecção capacitiva.
Imagens
US20140139839
estados unidos
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inventor:
Mostafa Medhat, Bassem Mortada, Ahmed Othman El Shater, Muhammed Nagy, Mina Gad Seif, Bassam A. Saadany, Amr N. Hafez
destinatário atual:
Sistemas SI Ware | SAE | SI Ware Systems Inc
Status:
Allowed
Data de status:
May 23, 2017
domínio:
Sistemas SI Ware | SAE | SI Ware Systems Inc
aplicações em todo o mundo:
2015. us us. 2026. kr au ca wo es ep cn mx jp. 2017. us us 2018. il
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