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Spectromètre intelligent portable basé sur le kit de développement NeoSpectra Micro. Pour déterminer le degré de maturité, le spectre de réflexion est enregistré de manière non destructive et évalué directement dans le dispositif intégré.

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Résumé :

Il a déjà été prouvé que la spectroscopie de réflectance dans le proche infrarouge (NIR) peut être utilisée pour mesurer la maturité des raisins en déterminant la teneur en sucre et en acide. Jusqu'à présent, les vignerons prélevaient fréquemment un échantillon aléatoire d'une centaine de baies par parcelle, afin de mesurer ces paramètres de manière destructive afin d'estimer la période de récolte idéale du produit obtenu. Parallèlement, des capteurs peu coûteux sont disponibles pour construire des instruments pratiques pour le contrôle non destructif, économique et rapide des paramètres de maturation dans le vignoble. Pour cela, un petit appareil portable comprenant un capteur NIR (1350 nm — 2600 nm) a été construit à partir d'un ordinateur monocarte Raspberry Pi 3 et d'un capteur NIR. Les spectres de baies individuelles, échantillonnées à partir de Riesling (Vitis vinifera, L.), ont été collectés. Les données de référence correspondantes ont été déterminées par chromatographie liquide à haute performance (HPLC). Des échantillons ont été prélevés sur différents fruits ainsi que dans différentes zones de grappes et depuis le début de la véraison jusqu'à la fin de la récolte, afin de garantir une large gamme d'ingrédients et les propriétés de maturation des différentes baies de la vigne. Cette étude est la première à étudier systématiquement les paramètres de maturation d'un vignoble entier à l'aide d'un capteur portatif. Le capteur peut être utilisé dans la pratique de la viticulture pour détecter la progression de la maturation et déterminer la période de récolte idéale de manière efficace, simple et non destructive.

Publié dans :
Portail de recherche
Catégorie :
Nourriture et boissons
Date de publication :
March 1, 2021
Auteurs :
Lucie Cornehl//Xiaorong Zheng/Anna Kicherer/Robin Gruna/Reinhard Toepfer
Université :
Institut Julius Kühn/Institut Fraunhofer d'optronique et de technologies des systèmes
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