Reserve una demostración

ARCHITECTURE DE SPECTROMÈTRE MEMS FT-IR COMPENSÉ

Résumé :

L'architecture d'un spectromètre à microsystème électromécanique (MEMS) compense les problèmes de verticalité et de dispersion à l'aide d'interfaces d'équilibrage. Un spectromètre/interféromètre MEMS comprend un séparateur de faisceau formé sur une première surface d'un premier support au niveau d'une interface entre le premier milieu et un second support, un premier miroir formé sur une deuxième surface du premier support, un deuxième miroir formé sur une troisième surface du premier support et des interfaces d'équilibrage conçues pour minimiser à la fois une différence d'angles d'inclinaison entre les surfaces et une différence d'erreurs de phase entre les faisceaux réfléchis par les premier et second miroirs.

Des images

12/877888

états-unis
télécharger le pdf
inventeur :
Diaa A. Khalil, Bassem Mortada, Mohamed Nabil, Mostafa Medhat, Bassam A. Saadany
cessionnaire actuel :
Systèmes SI Ware SAE SI Ware Systems Inc.
État :
Allowed
Date de statut :
September 10, 2013
domaine :
Systèmes SI Ware SAE SI Ware Systems Inc.
applications dans le monde entier :
2015. États-Unis 2026. kr au ca wo es el cn mx jp. 2017. États-Unis 2018. il

Êtes-vous prêt à rationaliser les processus d'analyse de votre entreprise ?

Découvrez NeoSpectra en action et découvrez comment il peut améliorer vos flux de travail d'analyse. Remplissez le formulaire pour demander une démonstration et nous serons heureux de vous guider à travers ses fonctionnalités uniques.

Contactez-nous