จองการสาธิต

การสอบเทียบด้วยตนเองสำหรับการวางตำแหน่งกระจกในอินเตอร์เฟอโรมิเตอร์ MEMS แบบออปติคั

บทคัดย่อ:

รูปแบบของการเปิดเผยข้อมูลในปัจจุบันมีอุปกรณ์ Micro-Electro-Mechanical System (MEMS) สำหรับการดำเนินการสอบเทียบตำแหน่งกระจกด้วยตนเองอุปกรณ์ MEMS ประกอบด้วยกระจกอย่างน้อยหนึ่งกระจกที่มีพื้นผิวที่ไม่เป็นระนาบ และตัวกระตุ้น MEMS ที่มีความจุแบบแปรผันซึ่งเชื่อมต่อกับกระจกเคลื่อนที่ได้เพื่อทำให้เกิดการเคลื่อนย้ายอุปกรณ์ MEMS ยังรวมถึงหน่วยความจำที่เก็บไว้ในการทำแผนที่ตารางความจุของแอคทูเอเตอร์ MEMS ไปยังตำแหน่งที่เก็บไว้ของกระจกเคลื่อนที่ได้และวงจรตรวจจับความจุแบบคาปาซิทีฟที่เชื่อมต่อกับแอคทูเอเตอร์ MEMS เพื่อตรวจจับความจุของแอคทูเอเตอร์ MEMS ที่ตำแหน่งอ้างอิงหลายตำแหน่งของกระจกเคลื่อนที่ซึ่งสอดคล้องกับจุดระเบิดตรงกลางและอินเตอร์เฟอโรแกรมทุติยภูมิอย่างน้อยหนึ่งอันที่ผลิตโดยไม่มีอินเตอร์เฟอโรมิเตอร์ พื้นผิวระนาบโมดูลสอบเทียบใช้ความจุของตัวกระตุ้นที่ตำแหน่งอ้างอิงเพื่อกำหนดปริมาณการแก้ไขที่จะใช้กับความจุที่เก็บไว้ สิ่งประดิษฐ์ถูกกำหนดโดยการอ้างสิทธิ์ที่แนบมา

รูปภาพ

ตอนที่ 167196732

สหรัฐอเมริกา
ดาวน์โหลด pdf
นักประดิษฐ์:
โมเมน อันวาร์, โมสตาฟา เมดฮัต, บาสเซม มอร์ตาดา, อาห์เมด อุทมาน เอล ชาเทอร์, มินา กาด เซฟ, มุฮัมเมด นาจี, บาสซัม เอ ซาดานี, อัมร เอ็น ฮาเฟซ
ผู้รับมอบอำนาจปัจจุบัน:
บริษัท เอสไอ เวอร์ ซิสเต็มส์
สถานะ:
Allowed
วันที่สถานะ:
July 7, 2021
โดเมน:
บริษัท เอสไอ เวอร์ ซิสเต็มส์
แอปพลิเคชันทั่วโลก:
2015. สหรัฐอเมริกา 2026. kr au ca wo es ep cn mx jp. 2017. US 2018. il

พร้อมที่จะปรับปรุงกระบวนการวิเคราะห์สำหรับธุรกิจของคุณหรือไม่?

ดู NeoSpectra ในการดำเนินการ และเรียนรู้ว่ามันสามารถปรับปรุงเวิร์กโฟลว์การวิเคราะห์ของคุณได้อย่างไรกรอกแบบฟอร์มเพื่อขอสาธิต และเรายินดีที่จะแนะนำคุณผ่านคุณสมบัติที่เป็นเอกลักษณ์

ติดต่อเรา