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Analisador de materiais compacto

Resumo:

Os aspectos estão relacionados a um analisador de material compacto, incluindo uma fonte de luz, um detector e um módulo que inclui uma primeira janela óptica no primeiro lado do módulo, uma segunda janela óptica no segundo lado do módulo oposto ao primeiro lado e um modulador de luz. A fonte de luz produz luz de entrada em alta potência que passa pela primeira janela óptica até o modulador de luz. O modulador de luz é configurado para atenuar a luz de entrada, produzir luz modulada com base na luz de entrada e direcionar a luz modulada através da segunda janela óptica para a amostra. A luz modulada produzida pelo modulador de luz está em uma potência mais baixa, segura para a amostra. O detector é configurado para receber luz de saída da amostra produzida pela interação com a luz modulada através da segunda janela óptica e para detectar um espectro da luz de saída.

Imagens

US20220244101

estados unidos
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inventor:
Yasser M. Sabry, Bassem A. Mortada, Khaled Hassan, Abdelrahman Ahmed Maher, Mohamed Elsayed Salem, Diaa Khalil, Mohamed H. Al Haron, Mohammed Ahmed Elsheikh, Ahmed Shebl, Bassam Saadany, Mostafa Medhat, Botros George Iskander Shenouda
destinatário atual:
SI Ware Systems Inc
Status:
Allowed
Data de status:
December 12, 2023
domínio:
SI Ware Systems Inc
aplicações em todo o mundo:
2015. us us. 2026. kr au ca wo es ep cn mx jp. 2017. us us 2018. il

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