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紧凑型材料分析仪

摘要:

各方面涉及紧凑型材料分析仪,包括光源、探测器和模块,该模块包括模块第一侧的第一光学窗口、位于模块第二侧与第一侧对面的第二光学窗口以及光调制器。光源产生高功率的输入光,该输入光通过第一个光学窗口传递到光调制器。光调制器配置为衰减输入光,根据输入光产生调制光,并将调制光通过第二个光学窗口引导到样品。光调制器产生的调制光在较低的功率下对样品来说是安全的。探测器配置为通过第二个光学窗口从与调制光相互作用产生的样品中接收输出光,并检测输出光的光谱。

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美国20220244101

美国
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发明家:
Yasser M. Sabry、Bassem A. Mortada、Khaled Hassan、Abdelrahman Ahmed Maher、Mohamed Elsayed Salem、Diaa Khalil、Mohamed H. Al Haron、穆罕默德·艾哈伦、穆罕默德·艾哈迈德·埃尔谢赫、艾哈迈德·谢布尔、巴萨姆·萨达尼、莫斯塔法·梅德哈特、Botros George Iskander Shenouda
当前受让人:
SI Ware 系统公司
状态:
Allowed
状态日期:
December 12, 2023
域:
SI Ware 系统公司
全球应用程序:
2015. 美国。2026。kr au ca wo es ep cn mx jp. 2017。2017 年美国。2018 年美国。il

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