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ARQUITETURA DE ESPECTRÔMETRO MEMS FT-IR COMPENSADO

Resumo:

A arquitetura de um espectrômetro de Micro Sistema Eletro-Mecânico (MEMS) compensa os problemas de verticalidade e dispersão usando interfaces de balanceamento. Um espectrômetro/interferômetro MEMS inclui um divisor de feixe formado na primeira superfície de um primeiro meio em uma interface entre o primeiro meio e um segundo meio, um primeiro espelho formado em uma segunda superfície do primeiro meio, um segundo espelho formado em uma terceira superfície do primeiro meio e interfaces de balanceamento projetadas para minimizar a diferença nos ângulos de inclinação entre as superfícies e a diferença nos erros de fase entre os feixes refletidos do primeiro e do segundo espelhos.

Imagens

201107529-8

estados unidos
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inventor:
Diaa A Khalil, Bassem Mortada, Mohamed Nabil, Mostafa Medhat, Bassam A Saadany
destinatário atual:
Sistemas SiWare | SI Ware Systems Inc
Status:
Granted
Data de status:
November 3, 2014
domínio:
Sistemas SiWare | SI Ware Systems Inc
aplicações em todo o mundo:
2015. us us. 2026. kr au ca wo es ep cn mx jp. 2017. us us 2018. il

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