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自参照光谱仪

摘要:

本披露的某些方面涉及一种自参照光谱仪,用于同时测量背景或参考光谱密度以及样品或其他光谱密度。自参照光谱仪包括光学耦合的干涉仪,用于接收输入光束,引导输入光束沿第一光路产生第一干涉光束,并将输入光束引导到第二光路以产生第二干涉光束,其中每个干涉光束都是在干涉仪输出之前产生的。光谱仪还包括光学耦合的探测器,可同时检测第一干扰束生成的第一干扰信号和第二干扰束生成的第二干扰信号,以及配置为处理第一干扰信号和第二干扰信号并在处理第一干扰信号时使用第二干扰信号作为参考信号的处理器。

图片

CN111936831A

美国
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发明家:
M·梅德哈特B·莫塔达迪·M·萨布里姆·胡萨姆姆姆·安瓦拉·什布尔·哈德达拉·哈德达拉·哈德达拉B·A·萨达尼
当前受让人:
SI Ware 系统公司
状态:
Granted
状态日期:
November 10, 2023
域:
SI Ware 系统公司
全球应用程序:
2015. 美国。2026。kr au ca wo es ep cn mx jp. 2017。2017 年美国。2018 年美国。il

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