ประสิทธิภาพของสเปกโตรมิเตอร์ FT/NIR MEMS แบบพกพาเพื่อทำนายคุณสมบัติของดิน

บทคัดย่อ:

สเปกโตรมิเตอร์ NIR ที่ใช้ระบบไมโคร/อิเล็กโทรกลไก (MEMS) ได้วางจำหน่ายในตลาดโดยมีราคาที่ต่ำกว่าและขนาดเล็กกว่าสเปกโตรมิเตอร์แบบดั้งเดิมเทคโนโลยี MEMS ช่วยให้สามารถย่อขนาดและลดต้นทุนของสเปกโตรมิเตอร์ ทำให้สามารถใช้งานได้กว้างขึ้นสำหรับที่ปรึกษาด้านการเกษตร ช่างเทคนิค และนักวิจัยทางวิทยาศาสตร์จุดมุ่งหมายของงานนี้คือการประเมินสเปกโตรมิเตอร์ FT/NIR MEMS ที่เป็นนวัตกรรมใหม่ ได้แก่ Neospectra Scanner (NS) ครอบคลุมช่วงตั้งแต่ 1350 ถึง 2500 นาโนเมตรการประเมินดำเนินการโดยการเปรียบเทียบความแม่นยำในการทำนายคาร์บอนอินทรีย์ในดิน เศษส่วนพื้นผิว และแคลเซียมคาร์บอเนตทั้งหมด ที่ได้รับจาก NS กับสเปกโตรมิเตอร์ VIS/NIR แบบเต็มมาตรฐาน ได้แก่ ASD/FieldSpec Fr Pro (AF)ชุดข้อมูลของตัวอย่างดิน 182 ตัวอย่างแห้งและร่อนที่ 2 มม. รวบรวมจากพื้นที่เกษตรที่แตกต่างกัน 4 แห่งของอิตาลีได้รับการสแกนด้วยอุปกรณ์ทั้งสองAF แสดงให้เห็นว่า R2 สูงขึ้นเล็กน้อยและข้อผิดพลาดในการทำนายต่ำกว่า NS สำหรับคุณสมบัติของดินทั้งหมด แต่ความแม่นยำของเครื่องมือทั้งสองสามารถถือได้ว่าเปรียบเทียบได้การลบช่วง 350 ~ 1350 นาโนเมตรจากสเปกตรัม VIS/NIR ของ AF กล่าวคือ เนื่องจากมีช่วงสเปกตรัมเท่ากันของ NS ทำให้ความแม่นยำในการทำนายของ AF ลดสเปกตรัม (1350 ~ 2500 นาโนเมตร) ต่ำกว่า NS เล็กน้อยสิ่งนี้แสดงให้เห็นว่าความแม่นยำที่ต่ำกว่าของ NS ในการทำนายคุณสมบัติของดินไม่ได้เกิดจากความละเอียดของสเปกตรัมที่ต่ำกว่า แต่อาจเกิดจากการขาดการมองเห็นและจุดเริ่มต้นของช่วง NIR (350 ~ 1300 นาโนเมตร)