เกี่ยวกับความสำคัญของการตรวจสอบโครงสร้างข้อมูลในการวัดสเปกโตรสโคปี NIR ขนาดเล็กของอาหาร: กรณีศึกษาของน้ำตาล

บทคัดย่อ:

นอกเหนือจากหลักฐานที่เพิ่มขึ้นเกี่ยวกับประสิทธิภาพของเครื่องมือ NIR ขนาดเล็กในสถานการณ์ที่เกี่ยวข้องกับอาหาร จำนวนผู้ใช้ปลายทางก็เพิ่มขึ้นเรื่อย ๆ แม้กระทั่งได้รับแรงจูงใจจากต้นทุนของเซ็นเซอร์ในขณะที่ให้ความสนใจกับโปรโตคอลการวิเคราะห์ ตั้งแต่การสุ่มตัวอย่างไปจนถึงการรวบรวมข้อมูล ไปจนถึงการประมวลผลข้อมูล แต่โดยทั่วไปแล้วความสำคัญของการตรวจสอบข้อผิดพลาดในข้อมูลดิบจะถูกประเมินต่ำเกินไปการทำความเข้าใจแหล่งที่มาและโครงสร้างของความไม่แน่นอนที่เกี่ยวข้องกับข้อมูลดิบช่วยปรับปรุงคุณภาพของการวัดและแนะนำการวางแผนการทดลองที่ถูกต้องรวมถึงช่วยในการพัฒนาแบบจำลองเคมีเมตริกเป้าหมายของการสร้างแบบจำลองทางเคมีเมตริกคือการแยกข้อมูลออกจากเสียงรบกวน ดังนั้นจึงจำเป็นต้องมีการอธิบายลักษณะของโครงสร้างข้อผิดพลาดในการวัดในบรรดาแนวทางที่แตกต่างกันเรานำเสนอการศึกษาเมทริกซ์ความผันผวนของข้อผิดพลาด (ECMs) และการสลายตัวของพวกมันในโครงสร้างสองเส้นเป็นวิธีการที่มีประสิทธิภาพในการศึกษาแหล่งที่มาหลักของความแปรปรวนเมื่อใช้เซ็นเซอร์ NIR ขนาดเล็กในวิธีการใช้งานจริงตัวอย่างน้ำตาลทรายและก้อนถูกเลือกเป็นกรณีศึกษาและวิเคราะห์ด้วยสเปกโตรมิเตอร์ขนาดเล็กสองตัวที่ทำงานในภูมิภาค NIR ประมาณ 1350—2550 นาโนเมตรและ 900—1750 นาโนเมตรตามลำดับในโหมดการสะท้อนแบบกระจายตัวผลลัพธ์แสดงให้เห็นว่าการมีข้อมูลเชิงลึกเกี่ยวกับข้อผิดพลาดในการวัดหลายตัวแปรที่เกี่ยวข้องกับสเปกตรัมอาจเป็นเรื่องที่น่าสนใจในการปูทางสำหรับการใช้งานหลายอย่าง